晶振是否起真测量

       最近遇到了晶振是否起振这个问题了。在我们的一款产品上,可能,可能,可能是因为晶振不起振导致系统彻底卡死成板砖了。于是关于晶振的各种折腾就开始了。

      晶振不起振,是否可测呢是我直接用示波器来测试晶振是否起振了,是否有波形,结果是失败了,啥都没有。于是在网上寻求答案,有说的一个方法是用示波器衰减档来测试,于是我就试试,果然可以,看来网上高人多呀。可是后面又想到我们示波器探头自身带电容,这个会不会对晶振的震动频率有影响呢实就是这样的,不同起振电容都会导致不同的震荡频率。所以用示波器直接测量晶振的震荡频率不太靠谱,这样容易形成误测。所以就换一种方式了,使用MCU的MCO功能,将晶振的频率通过IO口输出,这样就可以准确的测试晶振的频率,就是软件改一改嘛!

    目前测试发现,晶振的震荡频率与匹配电容的关系是,频率越高,那么匹配电容肯定是大了,需要往小里调。频率偏低了,那么匹配电容肯定是小了,需要往大里调。

来源:zou_teng

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